高速 交變檢測(cè)型 霍爾IC
SEIKO精工S-5725系列是采用CMOS技術(shù)開(kāi)發(fā)的高精度霍爾IC，具有高靈敏度，高速檢測(cè)和低電流消耗的特性。當(dāng)SEIKO精工S-5725系列檢測(cè)到磁場(chǎng)強(qiáng)度時(shí)，輸出電壓會(huì)發(fā)生變化。 磁通密度和極性變化。 將S-5725系列與磁鐵一起使用可以檢測(cè)各種設(shè)備中的旋轉(zhuǎn)狀態(tài)。通過(guò)使用小型SOT-23-3或超小型SNT-4A封裝，可以進(jìn)行高密度安裝。 具有精確的磁特性，S-5725系列可以使操作與磁鐵組合的系統(tǒng)中的分散變小。注意該產(chǎn)品旨在用于一般電子設(shè)備，例如消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品，辦公設(shè)備和通信設(shè)備。 醫(yī)療設(shè)備或汽車(chē)設(shè)備中的產(chǎn)品，包括汽車(chē)音響，無(wú)鑰匙進(jìn)入和發(fā)動(dòng)機(jī)控制單元。
? 極性檢測(cè): 交變檢測(cè)
? 磁性檢測(cè)邏輯*1 : 檢測(cè)S極時(shí)VOUT = "L" 檢測(cè)S極時(shí)VOUT = "H"
? 輸出方式: N溝道開(kāi)路漏極輸出、CMOS輸出
? 電源電壓范圍 : VDD = 2.7 V ~ 5.5 V
? 工作溫度范圍 : Ta =-40°C ~+85°C
? 內(nèi)置電源開(kāi) / 關(guān)控制電路 : 可延長(zhǎng)電池的使用壽命 (僅限SNT-4A)
? 無(wú)鉛 (Sn 100%)、無(wú)鹵素
?封裝SOT-23-3和SNT-4A
? 磁性靈敏度:
BOP = 0.8 mT (典型值)
BOP = 1.8 mT (典型值)
BOP = 3.0 mT (典型值) BOP = 7.0 mT (典型值)
? 驅(qū)動(dòng)周期 (消耗電流) :
tCYCLE = 50μs (IDD = 1400.0μA) (典型值)
tCYCLE = 1.25 ms (IDD = 60.0μA) (典型值)
tCYCLE = 6.05 ms (IDD = 13.0μA) (典型值)
應(yīng)用領(lǐng)域
?便攜式游戲機(jī)
?家用電器
?房屋設(shè)備
?工業(yè)設(shè)備
SEIKO精工S-5725封裝SOT-23-3N溝道開(kāi)路漏極輸出產(chǎn)品
S-5725CNBL9-M3T1U S-5725CNBL0-M3T1U
S-5725CNBL1-M3T1U S-5725DNBL1-M3T1U
S-5725ENBH1-M3T1U S-5725ENBL9-M3T1U
S-5725ENBL0-M3T1U S-5725ENBL1-M3T1U
SEIKO精工S-5725封裝SOT-23-3CMOS輸出產(chǎn)品
S-5725CCBL9-M3T1U S-5725CCBL0-M3T1U
S-5725ECBH0-M3T1U S-5725ECBH1-M3T1U
S-5725CCBL1-M3T1U S-5725DCBL1-M3T1U
S-5725ECBL0-M3T1U S-5725ECBL1-M3T1U
S-5725ECBL9-M3T1U
SEIKO精工S-5725封裝SNT-4A N溝道開(kāi)路漏極輸出產(chǎn)品
S-5725ENBH3-I4T1U S-5725INBH0-I4T1U
S-5725JNBH0-I4T1U S-5725HNBH0-I4T1U
SEIKO精工S-5725封裝SNT-4A CMOS輸出產(chǎn)品
S-5725ECBL9-I4T1U S-5725JCBH0-I4T1U
S-5725JCBH1-I4T1U S-5725HCBH0-I4T1U
S-5725HCBH1-I4T1U S-5725ICBH0-I4T1U
S-5725ECBL0-I4T1U S-5725ECBH0-I4T1U
S-5725ICBH1-I4T1U
