rohm羅姆BU52494NUZ智能手機(jī)平板電腦開(kāi)關(guān)檢測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)IC芯片

BU52494NUZ全極檢測(cè)霍爾IC是可以同時(shí)運(yùn)行S極和N極的磁性開(kāi)關(guān)。 霍爾IC和磁鐵，可以實(shí)現(xiàn)平板電腦和智能手機(jī)的蓋開(kāi)閉檢測(cè)功能等。

BU52494NUZ特征

全極檢測(cè)

微功率運(yùn)行（使用間歇運(yùn)行方法的小電流）

超緊湊包裝

BU52494NUZ應(yīng)用領(lǐng)域

平板電腦，智能手機(jī)，筆記本電腦，數(shù)碼攝像機(jī)，數(shù)碼相機(jī)等。

BU52494NUZ關(guān)鍵規(guī)格

VDD電壓范圍：1.65 V至3.60 V

操作點(diǎn)：±6.3 mT（Typ）

磁滯：0.9 mT（Typ）

周期：50毫秒（典型值）

電源電流（平均）：4.2 μA（典型值）

輸出類型：CMOS

工作溫度范圍：-40°C至+85°C

封裝W（Typ）x D（Typ）x H（Max）

VSON04Z1114A 1.10mm x 1.40mm x 0.40mm